火工品

北大核心,CA,JST,CSCD扩展版,WJCI

国内刊号:61-1179/TJ

国际刊号:1003-1480

火工品杂志2019年第6期:不同调制周期的Al/MoO3半导体桥发火器件电爆性能研究

发布日期:

作者:党鹏阳

单位:陕西应用物理化学研究所

关键词:Al/MoO3复合薄膜;调制周期;活化能;发火感度

采用磁控溅射技术制备总厚度为6μm,调制周期分别为134nm/166nm和22nm/28nm的Al/MoO3复合薄膜,并将其与半导体桥(SCB)整合形成含能半导体桥(ESCB)发火器件,研究了Al/MoO3含能薄膜及SCB-Al/MoO3含能半导体桥的性能。DSC分析表明,调制周期为22nm/28nm的薄膜只有1个放热峰,其活化能为245kJ/mol;调制周期为134nm/166nm的薄膜有3个放热峰,最大放热峰的活化能为200kJ/mol。22nm/28nm的含能薄膜燃速为5.34m/s;134nm/166nm的含能薄膜燃速为1.79m/s。随着调制周期的增加, SCB-Al/MoO3的临界发火时间变长,调制周期对临界发火能量、作用总时间、作用总能量无影响,SCB-Al/MoO3(22nm/28nm)的电压发火感度高于SCB-Al/MoO3(134nm/ 166nm)。

来源:2019年第6期

《火工品》期刊编辑部

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