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国内刊号：61-1179/TJ
国际刊号：1003-1480
发布日期:
作者：章彬彬
单位：核工业井巷建设集团有限公司
关键词：数码电子雷管;霍普金森杆;发火-瞎火试验;小孔排距网路;数值模拟
基金：浙江省建设科研项目（No.2021K213）
为探究小孔排距网路中数码电子雷管的易损因素，通过发火-瞎火试验对比研究了经霍普金森杆冲击的数码电子雷管和普通导爆管雷管的抗冲击性；基于井巷小断面经典工况、ALE和Lagraner算法模型构建了数码电子雷管小孔排距网路工况模型，采用LS-DYNA软件对起爆点分别位于药柱中部和底部的爆炸历程和应力分布进行了模拟。结果表明：导致数码电子雷管在小孔排距网路中易损坏的主要因素是其电子控制模块抗冲击能力弱，通电后电子控制模块的抗冲击能力降低至通电前的2/5～1/2；将后爆炮孔的数码电子雷管置于前爆炮孔的适当位置，能有效降低其受到的冲击。
来源：2023年第2期
《火工品》期刊编辑部
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